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走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope）は試料に電子線を照射し、放出される二次電子及び反射電子を検出し結像させる装置です。主に試料表面の凹凸や組成に起因した像及び電位コントラスト像を観察できます。 方法.
Sem 反射電子像. SM-A-003-00 1/2 JEOL Application Data Sheet 関連装置：SEM一般. 1 反射電子と反射電子検出器 走査型電子顕微鏡(SEM)では、試料に電子線を照射 し、試料から放出される２次電子を検出することに よって、SEM 像を作りだす。 試料に電子線を照射し た時、試料からは２次電子以外に、反射電子やX 線 が放出される。.
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